X-Ray Free-Electron Laser (XFEL)

Archiv der Max-Planck-Gesellschaft

Verzeichnungsstufe:

Archivale

Archivaliensignatur:

III. Abt., Rep. 163, Nr. 100

Bestand:

III. Abt., Rep. 163 Nachlass Joachim Ullrich

Kontext:

Nachlass Joachim Ullrich >> Nachlass Joachim Ullrich >> Nachlass Joachim Ullrich >> Center for Free-Electron Laser Science (CFEL)

Laufzeit:

2011

Enthältvermerke:

Enthält u.a.: Projektskizze.

Enthält v.a.: XFEL EURO-CAMP Projektskizze

Archivalientyp:

Sachakte

Weitere Objektseiten:

Letzte Aktualisierung:

25.03.2025, 13:15 MEZ

Hierarchie